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更新時間：2023-09-04 
瀏覽次數(shù)：572手持式方塊電阻測量儀，方便攜帶和測量
可與兩種類型探頭（無損型和接觸型）互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動測量
電池連續(xù)工作時間：24小時（*使用電池時）
顯示數(shù)據(jù)數(shù)：最多100條（*從最新數(shù)據(jù)開始顯示）
保存數(shù)據(jù)數(shù)：最多50,000個（*專用軟件顯示）
測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
顯示：3個顯示單位（Ω/□、S/□、n/m[金屬膜厚度換算]）、4位浮點數(shù)（0.000～9999）
薄膜、玻璃上的薄膜等
原則上任何樣品只要在測量范圍內(nèi)都可以測量。
薄膜材料（ITO、TCO等）
低輻射玻璃
碳納米管、石墨烯材料
金屬材料（納米線、網(wǎng)格、網(wǎng)格）
其他的
無論尺寸和厚度如何都可以測量
（*大于每個探頭的測量光斑尺寸）
<測量點>
無損探頭（渦流式）：φ25mm
接觸式探頭（4 個探頭）：9 毫米（探頭之間 3 毫米）
無損探頭（渦流法）：0.5-200Ω/sq
接觸式探頭（4探頭法）：0.001-4,000Ω/sq
<手持式裝置（duores®本體）>
W100×D32×H210mm
約350g 不含電池
<無損探頭>
W70×D20×H70
約170g
<接觸式探頭>
W40×D15×H50
約85g
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