日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計

產(chǎn)品型號：CS-620F
更新時間：2024-08-28

簡要描述：日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計 CS-620F
在 3D NAND 制程中，沉積幾十層二氧化硅和氮化硅，并使用高溫磷酸選擇性地刻蝕氮化硅層。在該制程中，通過控制化學(xué)藥液的濃度和溫度，可以獲得期望的刻蝕速率。成熟型號很難測量高溫化學(xué)藥液，但 CS-620F 能夠在高達 170℃ 的高溫下進行測量。使用吸收光譜進行連續(xù)測量，與其他方法相比，需要的維護和耗材更少。

在線咨詢

產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	進口
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合

日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計 CS-620F

在 3D NAND 制程中，沉積幾十層二氧化硅和氮化硅，并使用高溫磷酸選擇性地刻蝕氮化硅層。在該制程中，通過控制化學(xué)藥液的濃度和溫度，可以獲得期望的刻蝕速率。成熟型號很難測量高溫化學(xué)藥液，但 CS-620F 能夠在高達 170℃ 的高溫下進行測量。使用吸收光譜進行連續(xù)測量，與其他方法相比，需要的維護和耗材更少。

主要特征：

可測量高達 92% 的高濃度磷酸

無需冷卻機制和冷卻時間。

無需冷卻循環(huán)管路中的高溫磷酸（140 至 170℃），可直接測量。

樣品使用PFA接觸，以降低污染風險。

采用每半年一次的背景校正周期，有助于顯著減少機臺停機時間。

每3秒更新一次測量數(shù)據(jù)，有助于更快速使用濃度反饋進行控制

日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計 CS-620F

主要特征：

可測量高達 92% 的高濃度磷酸

無需冷卻機制和冷卻時間。

無需冷卻循環(huán)管路中的高溫磷酸（140 至 170℃），可直接測量。

樣品使用PFA接觸，以降低污染風險。

采用每半年一次的背景校正周期，有助于顯著減少機臺停機時間。

每3秒更新一次測量數(shù)據(jù)，有助于更快速使用濃度反饋進行控制

日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計

在線咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：NDH 8000SP日本NIPPON DENSHOKU 開創(chuàng)性霧度計赫茲
下一篇：CS-600F日本horiba光纖型化學(xué)藥液濃度計

国产色情一区二区视频,好深好湿好硬顶到了好爽,夜夜爽77777妓女免费看,无码a片观看免费

日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：